上海光譜“CCD檢測器”研制項目順利通過驗收

發布時間：2011-02-24 16:18 原文鏈接：上海光譜“CCD檢測器”研制項目順利通過驗收

2011年2月22日由上海光譜儀器有限公司主標，上海理工大學、中國電子科技集團公司第44研究所參標承擔的國家“十一五”科技支撐計劃項目“高分辨分光器件及接收部件（器件）的研制與開發―CCD檢測器”課題（課題編號2006BAK03A03）順利通過了由國家質檢總局科技司組織的課題驗收，各方專家對該課題取得的豐碩成果給與了充分肯定與贊賞。

長期以來，高性能元器件一直是制約我國光譜儀器性能提升的關鍵所在，也是光譜儀器向多元素、快速測定、小型化等方向發展的瓶頸。為改變我國光譜儀器這種“空芯化”的狀況，科技部在十一五期間提出了包括紫外相應CCD、COMS，高穩定光源、中階梯光柵等在內的一批關鍵元器件的研制。經過上海光譜和各參標單位的共同努力，在CCD、COMS紫外響應，中階梯光柵等元器件的研制上取得了重大突破，形成了包括四項發明ZL在內的多項自主知識產權，具備了產業化得基本條件。與會專家一致認為，應持續深入地將這項工作向工程化，產業化方向繼續推動下去，盡快形成生產能力，以改變當前的被動局面。

本項目是上海光譜第一次主持的國家級科學儀器研發項目，與會的專家對于項目管理和項目財務管給予高分評價。