利用軟電離技術（如電噴霧和快原子轟擊）作為離子源時，所得到的質譜主要是準分子離子峰，碎片離子很少，因而也就沒有結構信息。為了得到更多的信息，最好的辦法是把準分子離子“打碎”之后測定其碎片離子。在串聯質譜中采用碰撞活化分解(Collision activated dissociation, CAD)技術把離子“打碎”。
碰撞活化分解也稱為碰撞誘導分解(Collision Induced dissociation, CID)，碰撞活化分解在碰撞室內進行，帶有一定能量的離子進入碰撞室后，與室內情性氣體的分子或原子發生碰撞，離子發生碎裂。為了使離子碰撞碎裂，必須使離子具有一定動能，對于磁式質譜儀，離子加速電壓可以超過1000V，而對于四極桿，離子阱等，加速電壓不超過100V，前者稱為高能CAD，后者稱為低能CID。二者得到的子離子譜是有差別的。