在尋找疾病相關基因的研究中,使用基因芯片對家系進行連鎖分析,將基因定位于少數幾個區域中,接著進行外顯子組測序或全基因組重測序尋找候選區域中的遺傳變異,是一個準確高效的研究方案。本文列舉了上海交通大學醫學院附屬新華醫院皮膚科李明老師團隊的兩項研究,均使用了上述方法成功找到了疾病相關的基因變異位點。該研究中的Illumina Infinium Human OminiZhongHua-8基因芯片和外顯子組測序服務由上海伯豪生物技術有限公司提供。
研究首先使用了Illumina Infinium Human OminiZhongHua-8基因芯片對整個家系樣本進行基因分型。過濾掉低質量位點,單態位點,以及不符合孟德爾定律的位點后,得到11,152個SNPs用于連鎖分析。由于Basan綜合征存在類似遺傳性大皰性表皮松解癥的臨床表現,因此先排除掉已知相關基因KRT5的突變。隨后連鎖分析得到了兩個相關區域,為4p15.31-4p14和4q13.2-4q23。
與上一篇研究類似,作者首先使用了Sanger測序在樣本中排除了包含已知致病基因ABCB6、POFUT1和POGLUT1突變的樣本,隨后使用Illumina Infinium Human OminiZhongHua-8基因芯片進行基因分型。連鎖分析將致病基因定位至12q13.12-12q14.1區域內,LOD值為3.19,定位精度為13.76 cM。
Li M, Wang J, Li Z, et al. Genome-wide linkage analysis and whole-genome sequencing identify a recurrent SMARCAD1 variant in a unique Chinese family with Basan syndrome[J]. European Journal of Human genetics, 2016.
Li M, Wang J, Zhang J, et al. Genome-wide linkage and exome sequencing analyses identify an initiation codon mutation of KRT5, in a unique Chinese family with generalized Dowling–Degos disease[J]. British Journal of Dermatology, 2015, 174(3):663-666.