全自動掃描電鏡滿足電子顯微拓展的分析需要

  全自動掃描電鏡采用統一的優良電子光學技術，臺式電鏡和立式電鏡具有相同的分辨率性能和圖像質量，可升級為亮度提高10倍的更的電鏡，實現納米尺度形貌快速表征。

   全自動掃描電鏡標準配置五軸優中心全自動樣品臺，樣品室可同時接配二次電子（SE)、背散射電子（BSE）、X射線能譜（EDS）、波譜儀（WDS）、電子背散射衍射（EBSD）、陰熒光（CL）等探測器附件。全自動掃描電鏡是一款媲美歐美大型掃描電鏡，功能強大的電子顯微分析平臺，相對歐美同類產品具有很高性價比。

   全自動掃描電鏡專門的經濟型、拓展能力強的大型樣品倉掃描電鏡，高分辨成像能力，滿足納米尺度快速形貌表征，五軸全自動，大批量分析測試，率，一體化設計，可隨時移動。全自動掃描電鏡可接配所有規格及高性能，具有大型掃描電鏡的分析效果，可輕易實現立體對圖像采集，重構3D形貌像。

   全自動掃描電鏡廣泛應用于冶金、機械、陶瓷、化工、半導體、電子器件、紡織、生物學等行業領域，適用于科學研究，工業產品失效分析，產品可靠性控制。先進的電子光學性能，滿足客戶從幾倍到幾十萬倍的快速觀察分析，不但具有強大的圖像處理分析功能，還能廣泛連接各種標準或者非標準探測器，拓展成為可靠的分析型電鏡，實現用戶對材料的微觀分析。

   全自動掃描電鏡適合大批量樣品快速分析測試，需要多種分析附件原位分析，大塊樣品測試，簡便的操作控制軟件，全鼠標鍵盤操作，多種自動工具輔助獲得佳圖像質量。全自動掃描電鏡采用立方結構樣品室，拓展為中型樣品倉，具有更大有效分析空間，全內置五軸優中心自動樣品臺，具有更大的自由行程，更好滿足電子顯微拓展分析需要。