1887年，海因里希·魯道夫·赫茲發現了光電效應，1905年，愛因斯坦解釋了該現象（并為此獲得了1921年的諾貝爾物理學獎）。兩年后的1907年，P.D. Innes用倫琴管、亥姆霍茲線圈、磁場半球（電子能量分析儀）和照像平版做實驗來記錄寬帶發射電子和速度的函數關系，他的實驗事實上記錄了人類第一條X射線光電子能譜。其他研究者如亨利·莫塞萊、羅林遜和羅賓遜等人則分別獨立進行了多項實驗，試圖研究這些寬帶所包含的細節內容。XPS的研究由于戰爭而中止，第二次世界大戰后瑞典物理學家凱·西格巴恩和他在烏普薩拉的研究小組在研發XPS設備中獲得了多項重大進展，并于1954年獲得了氯化鈉的首條高能高分辨X射線光電子能譜，顯示了XPS技術的強大潛力。1967年之后的幾年間，西格巴恩就XPS技術發表了一系列學術成果，使XPS的應用被世人所公認。在與西格巴恩的合作下，美國惠普公司于1969年制造了世界上首臺商業單色X射線光電子能譜儀。1981年西格巴恩獲得諾貝爾物理學獎，以表彰他將XPS發展為一個重要分析技術所作出的杰出貢獻。
現代XPS不僅可以給出材料表面元素組成及其化學態（原子價態及化學環境變化）和元素相對含量信息，還可以提供表面橫向與縱向深度分布信息，材料價帶結構信息等等。
近日，張江大科學裝置集群再添科研利器。由上海科技大學負責設計研發和建設的上海同步輻射光源納米角分辨光電子能譜(NanoARPES)實驗站順利通過了中國科學院組織的工藝測試驗收。該實驗站是上海同步輻射光......
掃描隧道顯微鏡(STM)已經成為表面科學中一種極其重要的測量分析手段,用于對固體表面形貌的測量以及費米面附近電子態的探測。然而STM在能譜測量方面的不足限制了它在固體表面微區元素分析及能譜譜學成像方面......
最近幾十年隨著納米材料研究的興起與發展,材料表面與其所處的環境相互作用所導致的表面性質越來越吸引研究者的目光。一大批專門表征材料表面的分析手段被發明,而對這些表面分析手段的進一步研究,逐漸成為物理領域......
電子顯微技術以及電子能譜技術已成為材料表征特別是定量分析的重要工具。作為這些技術的物理基礎,電子與固體相互作用的研究對定量解釋實驗電子顯微成像或電子能譜起著至關重要的作用,成為凝聚態物理研究的一個非常......
電子能譜分析法是采用單色光源（如X射線、紫外光）或電子束去照射樣品，使樣品中電子受到激發而發射出來（這些自由電子帶有樣品表面信息），然后測量這些電子的產額（強度）對其能量的分布，從中獲得有關信息的一類......
根據所采用的激發源的不同，電子能譜分析主要可分為以下兩大類：一是以光電子能譜（簡稱PES）；二是電子束作激發源去照射樣品，測量樣品所發射出的俄歇電子能量，稱為俄歇電子能譜（簡稱AES）。1、光電子能譜......
分析測試百科網訊2018年5月11日，由清華大學研發實驗服務基地主辦，首都科技條件平臺檢測與認證領域中心、首都科技條件平臺能源環保領域中心、首都科技條件平臺軍民融合領域中心、北京師范大學研發實驗服務基......
表面分析方法表面分析方法有數十種，常用的有離子探針、俄歇電子能譜分析和X射線光電子能譜分析，其次還有離子中和譜、離子散射譜、低能電子衍射、電子能量損失譜、紫外線電子能譜等技術，以及場離子顯微鏡分析等。......
蕙質蘭心勤思敏行——記國家大型科學儀器中心—北京電子能譜中心副主任姚文清“景昃鳴禽集，水木湛清華。”美麗的清華園作為中國乃至亞洲最著名的高等學府之一，在長達百年的辦學歷史中，培育出了眾多精英，為我國的......
分析測試百科網訊2016年4月22-26日，2016全國表面分析應用技術學術交流會在古都西安召開。交流會由全國微束分析標準化技術委員會表面分析分技術委員會、中國科學院化學研究所、北京師范大學、北京化工......