島津參加2011年中國國際納米科學技術會議

島津公司于2011年5月新品推出了SPM-9700掃描探針顯微鏡
    掃描探針顯微鏡(SPM)是在樣品表面用微小的探針進行掃描，高倍率觀察三維形貌和局部物理特性的顯微鏡總稱。SPM-9700更是性能高、速度快、操作簡單的新一代掃描探針顯微鏡。 

 

可從不同角度放大拉伸圖像進行確認。鼠標操作簡單，更可進行3D斷面形狀分析。 

    X射線光電子能譜儀（X-ray Photoelectron Spectroscopy，下稱XPS）是廣泛應用于材料科學領域的高技術分析儀器，主要用于固體材料的表面（2～3nm深度）元素成分和價態的定性和定量分析，與成像功能和離子濺射刻蝕相結合，也可以用于固體表面元素成分及價態的二維面分析和深度剖析，在納米材料、高分子材料、材料的腐蝕與防護、各類功能薄膜的機理研究、催化劑研究與失效等方面具有不可替代的作用。
 
    通常情況下，納米材料的顆粒直徑均在100nm左右，原子排列僅具備短程序而無長程序，其表面特性與塊狀材料有很大不同。由于顆粒過于微小，其他分析手段如SEM或EPMA的信息深度在1μm左右，測量結果只能是多個顆粒由表及里的平均結果，因而只能使用XPS等表面分析手段進行材料最外層數個原子層的成分與價態表征。
 
    相信島津納米分析領域的掃描探針顯微鏡（包含原子力顯微鏡、掃描隧道顯微鏡功能）、X射線光電子能譜的應用會令您的納米研究如虎添翼！