材料科學公共平臺工作流程的主要改進

分析、斷層掃描、樣品制備和數據完整性得到提升

圖片由 Bruce W. Arey 和 Andrew R. Felmy提供

　　德國耶拿，2019年7月24日，蔡司推出了新功能，在分析、斷層掃描、樣品制備和數據整合方面均得到了提升。這為工程材料、能源材料、軟材料和地球科學的研究帶來了新的可能性，順應了增材制造、電池和光伏研究、建筑材料和納米材料的大趨勢。

　　分析

　　蔡司Crossbeam系列引入了用于元素分析的二次離子質譜（SIMS）解決方案，為蔡司離子束顯微鏡增加了重要的分析能力。其通過在蔡司Crossbeam系列的新成員蔡司 Crossbeam 350以及蔡司Crossbeam 550上集成新的飛行時間二次離子質譜（ToF-SIMS）探測器而實現。

　　斷層掃描

　　作為蔡司全新聚焦離子束掃描電子顯微鏡（FIB-SEM）Crossbeam 350的一部分，蔡司發布了更加強大的3D斷層掃描工作流程，以確保生成一流的3D數據。對z切片厚度的精準測量和校準，保證了可將斷層切片近乎完美地重構成3D體數據。更新后的蔡司Atlas 5硬件和軟件包改進了3D分析功能（靜態電子背散射衍射（EBSD））、關聯工作流程和切片厚度的定義。這種所謂的“True Z技術”確保了高質量的FIB-SEM斷層掃描。

　　樣品制備

　　用于透射電子顯微鏡（TEM）薄片制備的全新樣品臺可以更加簡化TEM薄片制備工作流程，并確保樣品可無縫轉移到TEM中用于進一步分析。

　　數據完整性

　　蔡司ZEN Intellesis是一款基于機器學習的圖像分割軟件，它的發布，進一步完善了高速和高質量的數據采集。且它與蔡司Crossbeam 3D數據集完全兼容。這樣可以確保在數據采集速度和質量得到改善的同時又能保持數據完整性。該軟件提供基于紋理的分類，可以從纖維復合材料到儲層巖石的樣品中提取之前隱匿的信息。

　　點擊了解離子束顯微鏡解決方案。

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　　新聞聯絡人

　　蔡司研究顯微鏡解決方案

　　Vybhav Sinha

　　電話：+49 3641 643949

　　電子郵箱：vybhav.sinha@zeiss.com

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　　關于蔡司

　　蔡司是全球光學和光電領域的先鋒。蔡司致力于開發、生產和行銷測量技術、顯微鏡、醫療技術、眼鏡片、相機與攝影鏡頭、望遠鏡和半導體制造設備。憑借其解決方案，蔡司不斷推動光學事業的發展，并促進了技術進步。公司共有四大業務部門：工業質量與研究、醫療技術、視力保健/消費光學和半導體制造技術。蔡司集團在40多個國家/地區擁有30多座工廠、50多個銷售與服務機構以及約25個研發機構。

　　全球約27,000名員工在2016/2017財年創造了約53億歐元的業績。公司于1846年在耶拿成立，總部位于德國奧伯科亨。卡爾蔡司股份公司是負責蔡司集團戰略管理的控股公司。公司由Carl Zeiss Stiftung（卡爾蔡司基金會）全資所有。

　　更多信息請訪問www.zeiss.com

　　蔡司研究顯微鏡解決方案

　　蔡司研究顯微鏡解決方案是光學、電子、X射線和離子顯微鏡系統的一站式制造商，并提供相關顯微鏡的解決方案。產品組合包括生命科學和材料研究以及工業，教育和臨床實踐有關的產品和服務。該部門的總部設立在耶拿。其他生產和開發基地位于奧伯科亨，哥廷根和慕尼黑，以及英國劍橋、美國馬薩諸塞州皮博迪和美國加利福尼亞州普萊森頓。蔡司研究顯微鏡解決方案屬于工業質量和研究部門。部門約6,300名員工在2016/2017財年創造了總額達15億歐元的業績。