X射線光譜技術因其是一種環保型、非破壞性、分析精度高的分析技術[33], 特別是在貴金屬產品、飾品無損檢測方面有其獨特的優勢。用XRFA互標法無損檢測黃金飾品,對金飾品[w(Au)>96%]的測定絕對誤差<0.1%。在微量分析方面, 人們長期致力于研究便攜式X 射線光譜儀的研究并用于微量貴金屬元素的測定。另外,載體富集 XRF測定了地質物料中貴金屬元素也被運用。
波長色散X-射線熒光光譜法可測定純金中的金[34],用該方法測定了質量分數為98.00 %～99.95%的金,與火試金法、AAS、ICP-AES 的結果對照,其偏差絕對值均小于0.10 %[35] 。X-射線熒光光譜法無損檢測制備金標準也有報道[36] ,還報道了黃金飾品質量的 X-射線熒光光譜無損檢測[37]。表面鍍銠的白色K 金首飾用X-射線熒光能譜法進行測定,飾品中成分含量與銠層的厚度有關[38]。
全反射X射線熒光（TXRF）分析技術是近年來才發展起來的多元素同時分析技術。TXRF利用全反射技術，使樣品熒光的雜散本底比X熒光能量色散譜儀（EXRF）本底降低約四個量級，從而大大提高了能量分辨率和靈敏度，避免了XRF測量中通常遇到的本底增強或減弱效應；同時TXRF技術又繼承了EXRF方法的優越性，成為一種不可替代的全新的元素分析方法。該技術被譽為在分析領域是最具有競爭力的分析手段、在原子譜儀領域內處于領先地位。
在X熒光譜儀范圍內，與波長色散譜儀（WXRF）方法比較，由于TXRF分析技術用樣量很少，也不需要制作樣品的煩瑣過程，又沒有本底增強或減弱效應，不需要每次對不同的基體做不同的基體校準曲線。另外由于使用內標法，對環境溫度等要求很低。因而在簡便性、經濟性、用樣量少等方面，都比WXRF 方法有明顯的優越性。
TXRF 技術可以對從氧到鈾的所有元素進行分析，一次可以對近30種元素進行同時分析，這是原子吸收譜儀中的ETAAS和FAAS方法難以做到的。與質譜儀中的ICP-MS和GDMS以及中子活化分析（NAA）等方法相比較，TXRF分析方法在快速、簡便、經濟、多元素同時分析、用樣量少、檢出限低、定量性好等方面有綜合優勢。其最低絕對檢出限為pg級（10－12g）。