電子探針譜儀概述
原理：利用聚焦電子束（電子探測針）照射試樣表面待測的微小區域，從而激發試樣中元素產生不同波長（或能量）的特征X射線。用X射線譜儀探測這些X射線，得到X射線譜。根據特征X射線的波長（或能量）進行元素定性分析；根據特征X射線的強度進行元素的定量分析。 適合分析材料:金屬及合金，高分子材料、陶瓷、混凝土、生物、礦物、纖維等無機或有機固體材料分析 應用領域：地質，冶金，石油，化工，礦產，農業等領域 注意事項：樣品要有良好的導電、導熱性，表面平整度等 特點：波譜儀分析的元素范圍廣、探測極限小、分辨率高，適用于精確的定量分析。 能譜儀分析速度快，可用較小的束流和微細的電子束，對試樣表面要求不如波譜儀那樣嚴格，因此特別適合于與掃描電子顯微鏡配合使用。......閱讀全文
驗室電子探針介紹
電子探針是通過加速和聚焦的極窄的電子束為探針，激發試樣中的某一微小區域，使其發出特征X射線，由儀器配備的四道波譜儀、一道能譜儀、一個陰極發光成像系統接收并測定該X射線的波長和強度，即可對該微區的元素作定量或定性分析。將其與電鏡功能相結合，能有效的把顯微組織和元素成分聯系起來，成為目前研究亞微觀結構和
電子探針的結構特點
電子探針X射線顯微分析儀（簡稱電子探針）利用約1Pm的細焦電子束，在樣品表層微區內激發元素的特征X射線，根據特征X射線的波長和強度，進行微區化學成分定性或定量分析。電子探針的光學系統、真空系統等部分與掃描電鏡基本相同，通常也配有二次電子和背散射電子信號檢測器，同時兼有組織形貌和微區成分分析兩方面的功
電子探針的產品優勢
1、能進行微區分析。可分析數個μm3內元素的成分。2、能進行現場分析。無需把分析對象從樣品中取出，可直接對大塊試樣中的微小區域進行分析。把電子顯微鏡和電子探針結合，可把在顯微鏡下觀察到的顯微組織和元素成分聯系起來。3、分析范圍廣。Z>4其中，波譜：Be~U，能譜：Na~U。
電子探針的功能特點
電子探針可以對試樣中微小區域（微米級）的化學組成進行定性或定量分析。可以進行點、線掃描（得到層成分分布信息）、面掃描分析（得到成分面分布圖像）。還能全自動進行批量（預置9999測試點）定量分析。由于電子探針技術具有操作迅速簡便（相對復雜的化學分析方法而言）、實驗結果的解釋直截了當、分析過程不損壞樣品
電子探針的功能介紹
電子探針是一種利用電子束作用樣品后產生的特征X射線進行微區成分分析的儀器，可以用來分析薄片中礦物微區的化學組成。除H、He、Li、Be等幾個較輕元素外，還有U元素以后的元素以外都可進行定性和定量分析。電子探針的大批量是利用經過加速和聚焦的極窄的電子束為探針，激發試樣中某一微小區域，使其發出特征X射線
電子探針的結構特點
電子探針X射線顯微分析儀（簡稱電子探針）利用約1Pm的細焦電子束，在樣品表層微區內激發元素的特征X射線，根據特征X射線的波長和強度，進行微區化學成分定性或定量分析。電子探針的光學系統、真空系統等部分與掃描電鏡基本相同，通常也配有二次電子和背散射電子信號檢測器，同時兼有組織形貌和微區成分分析兩方面的功
電子探針的結構原理
（1）電子光學系統。電子束直徑0.1～1μm，電子束穿透深度1～3μm。被激發原子發射特征X射線譜過程如下：圍繞原子核運動的內層電子，被電子束的電子轟擊后，其他外層電子為補充轟擊出的電子而發生躍遷，在躍遷過程中釋放出能量，即發射出X射線。（2）X射線譜儀。測量各種元素產生的X射線波長和強度，并以此對
xrf和epma兩種成分分析方法有何區別
xrf和epma兩種成分分析方法有何區別基本原理電子顯微探針是指用聚焦很細的電子束照射要檢測的樣品表面，用X射線分光譜儀測量其產生的特征X射線的波長和強度。由于電子束照射面積很小，因而相應的X射線特征譜線將反映出該微小區域內的元素種類及其含量。 利用特征X射線波長來確定元素的叫做波譜儀(WDS）
EPMA和EMPA區別
一.電子顯微探針分析 EMPA--Electron microprobe analysis基本原理 電子顯微探針是指用聚焦很細的電子束照射要檢測的樣品表面，用X射線分光譜儀測量其產生的特征X射線的波長和強度。由于電子束照射面積很小，因而相應的X射線特征譜線將反映出該微小區域內的元素種類及其含量。
地學實驗室及儀器掃盲（5）電子探針實驗室
實驗設備? 名稱：SX51型電子探針 型號：SX51 性能指標：法國CAMRCA公司生產 1994年10月安裝使用 ??配備3道波譜儀（WDS） 、OXFORD公司LINK ISIS能譜儀（EDS）以及陰極發光（CL）探頭。 ??空間分辨率7nm； ??8塊分光晶體，可分析Na-U間的元素。
電子探針顯微鏡之元素分析范圍廣
電子探針所分析的元素范圍從硼(B)——鈾(Ｕ)，因為電子探針成份分析是利用元素的特 征 X 射線，而氫和氦原子只有 K 層電子，不能產生特征 X 射線， 所以無法進行電子探針 成分分析。鋰(Li)和鈹(Be)雖然能產生 X 射線，但產生的特征 X 射線波長太長，通常無法進 行檢測，少數電子探針
電子薄膜的電子探針能譜分析技術研究
對于電子薄膜材料研究,薄膜的微觀結構、成分和厚度是決定薄膜性能的一個關鍵因素。如何表征薄膜的微觀結構、成分和厚度也一直是薄膜研究領域的一個重要課題,尤其是應用無損表征方法。掃描電子顯微鏡配備X射線能譜儀分析技術（電子探針能譜）能夠觀察微觀形貌和分析薄膜的微區成分的同時,根據電子束的穿透深度可測量薄膜
二次離子質譜概述
二次離子質譜（secondary ion mass spectroscopy），是一種非常靈敏的表面成份精密分析儀器，它是通過高能量的一次離子束轟擊樣品表面，使樣品表面的分子吸收能量而從表面發生濺射產生二次粒子,通過質量分析器收集、分析這些二次離子，就可以得到關于樣品表面信息的圖譜。 用一次離
概述交流極譜法的特點
交流極譜波和直流極譜波相比，有兩個特點： ① 交流極譜波具有電流峰,類似直流極譜波的一次微分曲線。這是由于交流極譜電流的大小與直流極譜波的d /d 有關,直流極譜波上某一點的斜率d /d 愈大,相應的交流電流也愈大；在直流極譜波的半波電位處，交流電流最大,所以極譜波具有電流峰(圖2)。 ② 交
熱電離型質譜計概述
質譜(又叫質譜法)是一種與光譜并列的譜學方法，通常意義上是指廣泛應用于各個學科領域中通過制備、分離、檢測氣相離子來鑒定化合物的一種專門技術。質譜法在一次分析中可提供豐富的結構信息，將分離技術與質譜法相結合是分離科學方法中的一項突破性進展。
飛行時間質譜的概述
飛行時間質譜，Time of Flight Mass Spectrometer (TOF)，是一種很常用的質譜儀。這種質譜儀的質量分析器是一個離子漂移管（ion drift tube）。由離子源產生的離子首先被收集。在收集器中所有離子速度變為0。使用一個脈沖電場加速后進入無場漂移管，并以恒定速度飛向
飛行時間質譜的概述
飛行時間質譜，Time?of Flight Mass Spectrometer (TOF)，是一種很常用的質譜儀。這種質譜儀的質量分析器是一個離子漂移管（ion drift tube）。由離子源產生的離子首先被收集。在收集器中所有離子速度變為0。使用一個脈沖電場加速后進入無場漂移管，并以恒定速度飛向
極譜法的分析方法概述
極譜法和伏安法都是電化學分析法，通過測定電解過程中所得的電流-電壓（或電位-時間）曲線來確定溶液中被測定物質的濃度。它們和同類中其它電化學分析法的區別在于電解池中使用一個極化電極和一個去極化電極。極譜法與伏安法的區別在于極化電極的不同。凡使用滴汞電極或其它表面能夠周期性更新的液體電極者稱極譜法；
關于“X射線能譜定量分析通則”國家標準制訂的幾個問題
Si(Li)探測器類的 X 射線能譜儀已廣泛地應用于電子探針和掃描電鏡的分析領域,據不完全統計, 我國大約有500多臺 X 射線能譜儀與電子探針或掃描電鏡(包括透視電子顯微鏡)聯用,已成為最為主要的微區元素分析的工具,發揮了重要的作用。但也存在著分析結果上的明顯缺陷,嚴重地影響定量分析的質量,并導致
電子探針儀器的分析特點
1.微區性、微量性:幾個立方um范圍能將微區化學成分與顯微結構對應起來。而一般化學分析、X射線熒光分析及光譜分析等，是分析樣品較大范圍內的平均化學組成，也無法與顯微結構相對應，不能對材料顯微結構與材料性能關系進行研究。 2.方便快捷:制樣簡單，分析速度快。 3.分析方式多樣化:可以連續自動進
電子探針的技術優勢
1、能進行微區分析。可分析數個μm3內元素的成分。2、能進行現場分析。無需把分析對象從樣品中取出，可直接對大塊試樣中的微小區域進行分析。把電子顯微鏡和電子探針結合，可把在顯微鏡下觀察到的顯微組織和元素成分聯系起來。3、分析范圍廣。Z>4其中，波譜：Be~U，能譜：Na~U。
電子探針的分析特點介紹
第一、微區性、 微量性：幾個立方μm范圍能將微區化學成分與顯微結構對應起來。而一般化學分析、 X射線熒光分析及光譜分析等， 是分析樣品較大范圍內的平均化學組成，也無法與顯微結構相對應, 不能對材料顯微結構與材料性能關系進行研究。 第二、方便快捷：制樣簡單，分析速度快。 第三、分析方式多樣化：
電子探針分析的基本介紹
以聚焦的高速電子來激發出試樣表面組成元素的特征X射線,對微區成分進行定性或定量分析的一種材料物理試驗,又稱電子探針X射線顯微分析。電子探針分析的原理是：以動能為10～30千電子伏的細聚焦電子束轟擊試樣表面，擊出表面組成元素的原子內層電子，使原子電離，此時外層電子迅速填補空位而釋放能量，從而產生特征X
電子探針檢測樣品的說明
定量分析的樣品必須磨平拋光、清洗干凈。 若樣品不能進行表面磨平拋光(將影響分析精度)處理應事先說明。 為測試方便和節約機時，樣品應先切成小薄片，不能切割制樣，必須先與測試人員商量。 應先標記好分析面上的測試點，無標記測試位置時，測試時只選有代表性、較平整位置測試。液體樣必須先濃縮干燥。
電子探針的技術支持
該系統為電子探針分析提供具有足夠高的入射能量，足夠大的束流和在樣品表面轟擊殿處束斑直徑近可能小的電子束，作為X射線的激發源。為此，一般也采用鎢絲熱發射電子槍和2-3個聚光鏡的結構。 為了提高X射線的信號強度，電子探針必須采用較掃描電鏡更高的入射電子束流(在10-9-10-7A范圍)，常用的加速電壓為
電子探針，有幾種類型
何為電子探針，有幾種類型電子探針是一種分析儀器，可以用來分析薄片中礦物微區的化學組成。該儀器將高度聚焦的電子束聚焦在礦物上，激發組成礦物元素的特征X射線。用分光器或檢波器測定熒光X射線的波長，并將其強度與標準樣品對比，或根據不同強度校正直接計數出組分含量。電子探針可以對試樣中微小區域（微米級）的化學
電子探針的工作原理及構造
?工作原理分析由莫塞萊定律可知，各種元素的特征X射線都具有各自確定的波長，并滿足以下關系：通過探測這些不同波長的X射線來確定樣品中所含有的元素，這就是電子探針定性分析的依據。而將被測樣品與標準樣品中元素Y的衍射強度進行對比，即:就能進行電子探針的定量分析。 當然利用電子束激發的X射線進行元素分析，其
微區X射線光譜分析儀的分析應用
電子探針全稱電子探針X 射線顯微分析儀，又稱微區X射線光譜分析儀，是一種利用電子束作用樣品后產生的特征X射線進行微區成分分析的儀器，英文簡稱為EPMA。 可用來分析薄片中礦物微區的化學組成，分析對象是固體物質表面細小顆粒或微小區域，最小范圍直徑為1μm。除H、He、Li、Be等幾個較輕元素外，
電子探針X射線微區分析的工作原理
電子探針（Electron Probe Microanalysis-EPMA）的主要功能是進行微區成分分析。它是在電子光學和X射線光譜學原理的基礎上發展起來的一種高效率分析儀器。 其原理是：用細聚焦電子束入射樣品表面，激發出樣品元素的特征X射線，分析特征X射線的波長（或能量）可知元素種類；分析
電子探針X射線顯微分析儀的陰極發光介紹
陰極發光是指晶體物質在高能電子的照射下，發射出可見光紅外或紫外光的現像。陰極發光現象和發光能力、波長等均與材料基體物質種類和含量有關。陰極發光效應對樣品中少量元素分布非常敏感，可以作為電子探針微區分析的一個補充，根據發光顏色或分光后檢測波長即可進行元素分析。從陰極發光的強度差異還可以判斷一些礦物