掃描隧道顯微鏡的基本原理是將原子線度的極細探針和被研究物質的表面作為兩個電極，當樣品與針尖的距離非常接近(通常小于1nm)時，在外加電場的作用下，電子會穿過兩個電極之間的勢壘流向另一電極。
利用掃描隧道顯微鏡可直接觀測材料表面原子是否具有周期性的表面結構特征，表面的重構和結構缺陷等。
原子力顯微鏡是一種類似于掃描隧道顯微鏡的顯微技術，它們的主要不同點是掃描隧道顯微鏡檢測的是針尖和樣品間的隧道電流，而原子力顯微鏡檢測的是針尖和樣品間的力。
AFM可以研究絕緣體樣品的表面結構。AFM分辨率：橫向0.15nm，縱向0.05nm。STM分辨率：橫向0.1nm，縱向0.01nm。
AFM不但可測樣品的表面形貌，達到接近原子分辨率，還可測量表面原子間的力，測量表面的彈性，塑性，硬度，粘著力，摩擦力等性質。
2024ParkAFM獎學金獲得者2024年度ParkAFM獎學金第四位獲獎人是中國人民大學物理學院低維量子材料與掃描探針顯微學課題組的在讀博士研究生米爍博士，其導師是程志海教授。目前的主要研究方向為......
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