利用納米離子探針在隕石中尋找前太陽物質
隕石中的前太陽物質(presolar material)是在太陽系形成之前，由各種恒星演化至晚期噴出物凝聚形成微米至次微米大小的塵埃顆粒，是人類唯一能獲得的其他恒星樣品(又稱太陽系外物質)。前太陽顆粒攜帶了恒星核合成的信息，是恒星核合成理論的重要實驗制約。前太陽顆粒也是構成原始太陽星云的重要物質組成，并經歷了太陽星云階段以及隕石母體階段各種變質過程的演化。 中科院地質與地球物理研究所比較行星學學科組博士研究生趙旭晁在導師林楊挺研究員指導下，與美國華盛頓大學空間科學實驗室的合作者利用地質地球所 2011年新引進的納米離子探針(Cameca NanoSIMS 50L)和Auger納米探針，對采自南極格羅夫山的CR型碳質球粒隕石GRV021710開展了前太陽物質的系統調查和研究。 研究結果表明，GRV021710隕石是迄今為止發現的最富集前太陽顆粒的原始球粒隕石之一，含有大量的前太陽富氧顆粒(含量為236 ......閱讀全文
利用納米離子探針在隕石中尋找前太陽物質
隕石中的前太陽物質(presolar material)是在太陽系形成之前，由各種恒星演化至晚期噴出物凝聚形成微米至次微米大小的塵埃顆粒，是人類唯一能獲得的其他恒星樣品(又稱太陽系外物質)。前太陽顆粒攜帶了恒星核合成的信息，是恒星核合成理論的重要實驗制約。前太陽顆粒也是構成原始太陽星云的重要
離子探針方法
離子探針方法是將質譜測定技術與離子發射顯微鏡技術相結合的現代儀器分析方法。能提供一般質譜分析所不能提供的試樣微區質譜。由于它能對固體物質作微區、微量及深度成分分析，在某些條件下檢測靈敏度可達ppb數量級，因此被廣泛地應用于半導體、冶金、地質和生物研究等部門。其原理是利用聚焦的高能一次離子束轟擊試樣表
離子探針原理
離子探針(IMA)的基本原理是，用高能負氧離子轟擊樣品表面，測定被飛濺活化出來并發生電離的原子（即離子）的同位素組成，以獲得年齡。為一種得到迅猛發展的新型質譜計，它具有許多其他測年方法所沒有的優點：不需要化學處理；具有高的分辨率，可同時獲得幾組年齡以確定被測對象同位素體系是否封閉，有無鉛丟失；可對樣
鈣離子熒光探針：比值型熒光探針
前面我們介紹了熒光指示劑法可以將Ca2+檢測的實驗與其他技術結合使用，如可以與流式細胞儀、熒光分光光度計、或者熒光顯微鏡進行聯合檢測 。紫外光型主要包括Quin-2、Indo-1、Fura-2等，數量較少，可見光型數目較多，包括Fluo-3、鈣黃綠素、Rhod-2等。熒光指示劑根據測光原理和數據
北京離子探針中心離子探針質譜儀器研發進入攻堅階段
2010年1月16-17日，由北京離子探針中心主辦的“2009北京SHRIMP成果報告會”在京隆重舉行。中國科學院多位院士、政府相關部門負責人以及來自全國各地的地學界同仁等約100人出席了開幕式。自2002年起，一年一度的“北京SHRIMP成果交流會”已經成為中國地學界同仁們進行學術交
離子探針分析儀應用
離子探針分析儀應用由于SISM的特點，目前可以應用于下列五個方面的分析研究：1. 表面分析（包括單分子層的分析），諸如催化、腐蝕、吸附、和擴散等一些表面現象均通過SISM獲得了成功的分析研究。2. 深度剖面分析（深度大于50nm的分析），在薄膜分析、擴散和離子諸如等有關研究中，SISM是測定雜質和同
離子探針分析儀應用
目前可以應用于下列五個方面的分析研究：1. 表面分析（包括單分子層的分析），諸如催化、腐蝕、吸附、和擴散等一些表面現象均通過SISM獲得了成功的分析研究。2. 深度剖面分析（深度大于50nm的分析），在薄膜分析、擴散和離子諸如等有關研究中，SISM是測定雜質和同位素的深度濃度 分布最有效的表面分析工
離子探針分析儀簡介
離子探針分析儀，即離子探針（Ion Probe Analyzer，IPA），又稱二次離子質譜（Secondary Ion Mass Spectrum，SIMS），是利用電子光學方法把惰性氣體等初級離子加速并聚焦成細小的高能離子束轟擊樣品表面，使之激發和濺射二次離子，經過加速和質譜分析，分析區域可
離子探針分析儀特點
離子探針分析儀有以下幾個特點：1. 由于離子束在固體表面的穿透深度（幾個原子層的深度）比電子束淺，可對這樣的極薄表層進行成份分析。2. 可分析包括氫、鋰元素在內的輕元素，特別是氫元素，這種功能是其它儀器不具備的。3. 可探測痕量元素（～50×10-9，電子探針的極限為～0.01%）。4. 可作同位素
常見物質離子顏色
1.紅色[Fe(SCN)]2+(血紅色)；Cu2O(磚紅色)；Fe2O3(紅棕色)；紅磷(紅棕色)；液溴(深紅棕色)；Fe(OH)3(紅褐色)；I2的CCl4溶液(紫紅色)；MnO4-(紫紅色)；Cu(紫紅色)；在空氣中久置的苯酚(粉紅色). 2.橙色:溴水；K2Cr2O7溶液. 3.黃色:
電子探針測試前需要準備什么
電子探針一般對樣品表面拋光質量要求較高，在尺寸方面也有要求。具體制樣要求如下：（1）光、薄片尺寸：薄片大小為 48.0±5mm x 26.0±5mm，光片大小為直徑≤29mm的圓形光片（2）表面平整潔凈。對表面不清潔的樣品，需進行精細拋光。（3）拋光后或不需拋光的薄片，需要送樣人用炭素筆在薄片上圈定
太陽核心可能“潛伏”著暗物質
據每日科學網8月5日報道，英國倫敦大學皇家霍洛威學院一名科學家的最新研究結果，與上個月公布的“太陽內部或正積聚暗物質”的報告不謀而合。該科學家宣稱，太陽內部中心不但“潛伏”了暗物質，且在逐漸冷卻太陽的核心溫度。 7月2日，《物理評論快報》雜志的一篇論文闡述了來自牛津大學宇宙
離子探針分析儀器組成
離子探針主要由三部分組成：一次離子發射系統、質譜儀、二次離子的記錄和顯示系統。前兩者處于壓強〈10-7Pa的真空室內。其結構原理如圖所示。① 一次離子發射系統一次離子發射系統由離子源（或稱離子槍）和透鏡組成。離子源是發射一次離子的裝置，通常是用幾百伏特的電子束轟擊氣體分子（如惰性氣體氦、氖、氬等），
同位素質譜儀和離子探針
同位素質譜儀 同位素質譜分析法的特點是測試速度快，結果精確，樣品用量少（微克量級）。能精確測定元素的同位素比值。廣泛用于核科學，地質年代測定，同位素稀釋質譜分析，同位素示蹤分析。 離子探針 離子探針是用聚焦的一次離子束作為微探針轟擊樣品表面，測射出原子及分子的二次離子，在磁場中按質荷比（m
鋅離子熒光染料探針的應用
鋅離子在許多生理和病理過程中都起到至關重要的作用,因此對鋅離子進行探測和識別有重要理論和實際意義。熒光探針因其設計簡單、易于操作、靈敏度高、可細胞成像等諸多優點而廣泛應用于鋅離子的識別研究。鋅是生物中含量第二高的過渡金屬（僅次于鐵), 大腦中大多數Zn?2+緊密結合，因此細胞外和細胞內的游離Zn?2
鈣離子熒光探針類型大盤點
鈣離子在許多生理過程中起著復雜的作用。例如，細胞內鈣離子在促進神經元從神經元中釋放神經遞質的信號轉導途徑中必不可少，并參與所有肌肉細胞收縮所需的機制。細胞離子濃度受被動和主動離子通道和泵的調節。離子通道和泵的故障可能導致離子濃度調節不當，從而產生不利于正常細胞功能的不利條件。鈣離子濃度研究領域中常使
離子探針分析儀儀器組成
離子探針主要由三部分組成：一次離子發射系統、質譜儀、二次離子的記錄和顯示系統。前兩者處于壓強〈10-7Pa的真空室內。其結構原理如圖所示。① 一次離子發射系統一次離子發射系統由離子源（或稱離子槍）和透鏡組成。離子源是發射一次離子的裝置，通常是用幾百伏特的電子束轟擊氣體分子（如惰性氣體氦、氖、氬等），
PRL：太陽內部或許正在積聚暗物質
資料圖：NASA太陽動力學觀測衛星拍攝到的太陽照片 北京時間7月13日消息，據國外媒體報道，一項最新研究顯示，太陽也許是網羅暗物質的大網。如果暗物質恰好具有某種特定形態，它將能夠在這顆距離我們最近的恒星內部積聚，并以一種能被我們觀測到的形式改變熱量在太陽內部的傳遞方式。 暗物質是
關于離子探針的基本信息介紹
離子探針是用聚焦的一次離子束作為微探針轟擊樣品表面，測射出原子及分子的二次離子，在磁場中按質荷比（m/e）分開，可獲得材料微區質譜圖譜及離子圖像，再通過分析計算求得元素的定性和定量信息。測試前對不同種類的樣品須作不同制備，離子探針兼有電子探針、火花型質譜儀的特點。可以探測電子探針顯微分析方法檢測
離子探針質量顯微分析儀
離子探針質量顯微分析儀ion microprobe mass analyzer以聚焦很細(1～2微米)的高能(10～20千電子伏)一次離子束作為激發源照射樣品表面，使其濺射出二次離子并引入質量分析器，按照質量與電荷之比進行質譜分析的高靈敏度微區成分分析儀器，簡稱離子探針。簡史 應用離子照射樣品產生二
離子探針分析儀的應用概述
由于SISM的特點，目前可以應用于下列五個方面的分析研究： 1. 表面分析（包括單分子層的分析），諸如催化、腐蝕、吸附、和擴散等一些表面現象均通過SISM獲得了成功的分析研究。 2. 深度剖面分析（深度大于50nm的分析），在薄膜分析、擴散和離子諸如等有關研究中，SISM是測定雜質和同位素的
我國引進首臺納米離子探針通過驗收
我國引進的第一臺NanoSIMS 50L型納米離子探針驗收會于近日在中國科學院地質于地球物理研究所召開。中國科學院地質于地球物理研究所副所長吳福元研究員為組長的專家組認真聽取了法國CAMECA公司納米離子探針設計師、Fran?ois Hillion博士所作的驗收報告。專家組對儀器
離子探針是怎么進行運作的？
電離電極（離子探針）：多用于燃氣燃燒器上。程控器給電離電極供電，如果沒有火焰，電極上的供電將停止，如果有火焰，燃氣被其自身的高溫電離，離子電流在電極、火焰和燃燒頭之間流動，離子電流被整流成直流，并通過接地的燃燒器外殼到達火焰繼電器使之工作，以保證燃燒器后序工作順利進行。如果電離電極發生接地現象，那么
太陽系附近未能搜尋到暗物質
據英國《自然》雜志網站4月19日報道，在迄今最大型的同類調查中，在太陽系周圍徹底搜尋暗物質蹤跡的宇宙學家們空手而歸。科學家們認為，最新研究將顛覆傳統的暗物質理論，但也有研究人員對該研究方法和結論提出了質疑。 暗物質是一種假定中的不可見物質，據信其占據了宇宙總物質的80%。宇宙理論學家
物質落入黑洞前產生高能射線耀斑
我們的銀河系中心潛伏著一個超大質量黑洞，一些圍繞它旋轉的熱氣體可能會落入其中。據物理學家組織網近日報道，最近，歐洲空間局(ESA)赫歇爾空間天文臺對這些熱分子氣體進行了詳細觀察，發現它們能有這么高溫度，可能是黑洞正在給自己“烹煮”美餐。 該黑洞位于銀河系中心一個無線電光源人馬座A*(Sgr
DPiMS2020原位探針離子化質譜儀
島津液質聯用儀, DPiMS-2020 是一種基于探針電噴霧電離的單極質譜儀。它使用探針從樣品板上放置的樣品中取出微量的液體, 并將其注入 MS 單元進行質量分析。 它是非常容易操作和它能測量樣品例如化工產品、食物材料和生物樣品, 直接地或以非常極小的樣品預處理。
離子探針產品介紹、特點和應用領域
離子探針是用聚焦的一次離子束作為微探針轟擊樣品表面，測射出原子及分子的二次離子，在磁場中按質荷比（m/e）分開，可獲得材料微區質譜圖譜及離子圖像，再通過分析計算求得元素的定性和定量信息。測試前對不同種類的樣品須作不同制備，離子探針兼有電子探針、火花型質譜儀的特點。可以探測電子探針顯微分析方法檢測極限
離子探針分析儀的組成結構介紹
離子探針主要由三部分組成：一次離子發射系統、質譜儀、二次離子的記錄和顯示系統。前兩者處于壓強〈10-7Pa的真空室內。其結構原理如圖所示。 ① 一次離子發射系統 一次離子發射系統由離子源（或稱離子槍）和透鏡組成。離子源是發射一次離子的裝置，通常是用幾百伏特的電子束轟擊氣體分子（如惰性氣體氦、
離子探針分析儀基本原理
離子探針的原理是利用能量為1～20KeV的離子束照射在固體表面上，激發出正、負離子（濺射），利用質譜儀對這些離子進行分析，測量離子的質荷比和強度，從而確定固體表面所含元素的種類和數量。被加速的一次離子束照射到固體表面上，打出二次離子和中性粒子等，這個現象稱作濺射。濺射過程可以看成是單個入射離子和組成
請問離子探針分析儀有哪些特點？
SISM有以下幾個特點： 1. 由于離子束在固體表面的穿透深度（幾個原子層的深度）比電子束淺，可對這樣的極薄表層進行成份分析。 2. 可分析包括氫、鋰元素在內的輕元素，特別是氫元素，這種功能是其它儀器不具備的。 3. 可探測痕量元素（～50×10-9，電子探針的極限為～0.01%）。 4